發(fā)射率測(cè)量?jī)x是采用反射率法的測(cè)試原理，即通過采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率，進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率的。它能測(cè)量常溫樣品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三個(gè)波段的發(fā)射率。當(dāng)有特殊需要時(shí)，它可通過的控溫加熱裝置在常溫~600℃溫度范圍內(nèi)加熱樣品，從而對(duì)樣品進(jìn)行發(fā)射率變溫測(cè)量。

　　發(fā)射率測(cè)量?jī)x的發(fā)射率是指物體表面輻射出的能量與相同溫度的黑體輻射能量的比率。各種物質(zhì)的發(fā)射率是由物體的本身材質(zhì)、表面粗糙程度、表面幾何形狀、拍攝角度、波長(zhǎng)以及被攝物體本身的溫度所決定（其中物體本身材質(zhì)是對(duì)物體發(fā)射率影響的一個(gè)因素），所以相同的溫度下，物質(zhì)不同，向外輻射的能量也會(huì)不同。

　　發(fā)射率測(cè)量?jī)x的產(chǎn)品功能：

　　1、儀器中裝有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源和六位高精度微機(jī)控溫儀（能顯示到1mK）不僅使它具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍，而且還極大地提高了其在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。

　　2、采用*的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

　　3、為了確保儀器的測(cè)量精度，在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差，除鏡反射（MR）探測(cè)通道外，還增設(shè)了專門的漫反射（DR）補(bǔ)償通道。

　　4、在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè)，提高了儀器性能。

　　5、操作簡(jiǎn)單，使用方便，測(cè)量速度快。

　　6、可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。

　　7、在測(cè)量過程是不會(huì)損傷被測(cè)樣品。

　　8、帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。